National Instruments unter den 25 besten Arbeitgebern weltweit

Pressemitteilung, 28. Oktober 2011 – Auf der erstmals veröffentlichten Liste der „World’s Best Multinational Workplaces“ des Great Place to Work Institute hat National Instruments (Nasdaq: NATI) Platz 18 von insgesamt 25 multinationalen Spitzenarbeitgebern erreicht. Auf einer Galaveranstaltung am 27. Oktober 2011 in der New York Stock Exchange waren NI President, CEO und Mitbegründer Dr. James Truchard, Vice President Worldwide Human Resources Mark Finger und Michael Dams, Director Central European Region, sowie Spitzenkräfte weiterer führender weltweit tätiger Unternehmen anwesend, die mit dieser Auszeichnung gewürdigt wurden, darunter Google, Intel und Microsoft. „Unser…

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16. Technologie- und Anwenderkongress „VIP – Virtuelle Instrumente in der Praxis“ ein voller Erfolg

Pressemitteilung, 14. Oktober 2011 – Am 12. und 13. Oktober 2011 veranstaltete National Instruments bereits zum 16. Mal den Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ (VIP), der auch in diesem Jahr wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfand. Interessante Technologie- und Anwendervorträge, praxisnahe Workshops sowie eine große Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren machten den Kongress erneut zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot, die ein Fachpublikum aus ganz Deutschland sowie aus Österreich und der Schweiz anzog. Rund 600 Besucher informierten sich in über 120…

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National Instruments bringt NI VeriStand 2011 für Echtzeit- und HIL-Tests auf den Markt

Pressemitteilung – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt NI VeriStand 2011 vor, die neueste Version der konfigurationsbasierten Softwareumgebung zur Erstellung von Echtzeittest- und Simulationsanwendungen wie z. B. Hardware-in-the-Loop-Simulatoren (HIL) und Rapid Control Prototyping. Die intuitive, offene Softwarearchitektur sorgt dafür, dass Anwender bei reduzierter Entwicklungszeit der Test- und Prüfabläufe eine höhere Systemflexibilität erreichen können. Die neue Version verfügt über ein erweitertes Werkzeug zur Erstellung von Echtzeitstimulusprofilen, das die Ausführung deterministischer Testabläufe mithilfe von Schleifen- und Verzweigungsstrukturen, arithmetischen Funktionen, Multitasking-Fähigkeit usw. erheblich ausbaut. Anwender können NI VeriStand 2011 mit INERTIA™ kombinieren, einem Zusatzpaket…

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National Instruments erweitert Smart-Camera-Produktfamilie

Pressemitteilung 2011 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt heute die Erweiterung der Produktfamilie NI Smart Camera um sieben neue Modelle bekannt. Die verschiedenen Varianten beinhalten Optionen für Farbbilderfassung und hohe Auflösungen. Die neuen Smart Cameras NI 177x verfügen über einen 1,6 GHz Intel® Atom™ Prozessor für eine höhere Verarbeitungsleistung und Gehäuse nach Schutzart IP67. Dadurch sind sie für Anwendungen in der industriellen Überwachung geeignet, für die eine hohe Leistungsfähigkeit in einem robusten Formfaktor erforderlich ist. Des Weiteren besitzen die Kameras ein Echtzeitbetriebssystem, so dass sie die für den Fertigungsbereich benötigte…

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National Instruments führt PXI-Testlösung für RF-Leistungsverstärker vor

München – VIP 2011 – 12. Oktober 2011 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt auf dem Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2011“ eine vollständige PXI-basierte Lösung für den Validierungs- und Produktionstest von RF-Leistungsverstärkern vor. Die PXI-Testlösung veranschaulicht das Engagement von NI, den Bedarf von Ingenieuren an schnellen, effizienten und präzisen Mess- und Testlösungen zu decken. Diese Lösung wird auf dem PXI-Markt zu einer Zeit präsentiert, in der er, laut Frost & Sullivan, einem weltweit führenden Marktforschungsunternehmen, bis 2017 die 1-Milliarde-Dollar-Marke überschreiten wird. NI unterstützt diesen Weg mit…

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NI-Module erweitern Funktionen der PXI-Plattform und reduzieren Kosten für Halbleitercharakterisierung und -tests

NI-Module erweitern Funktionen der PXI-Plattform und reduzieren Kosten für Halbleitercharakterisierung und -tests Digitale per Pin Parametric Measurement Units und Source Measure Units mit hoher Kanalanzahl für Halbleiter Pressemitteilung – National Instruments (Nasdaq: NATI) hat die Funktionen der PXI-Plattform für die Halbleitercharakterisierung und Produktionsprüfung dank neuer PPMU-Module (per Pin Parametric Measurement Unit) und SMU-Module (Source Measure Unit) erweitert. Das Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Modul NI PXIe-6556 mit 200 MHz und PPMU-Funktionalität sowie die SMUs NI PXIe-4140 und NI PXIe-4141 mit vier Kanälen reduzieren Anschaffungskosten, verringern Prüfzeiten und erhöhen die Flexibilität bei Mixed-Signal-Tests für zahlreiche Prüflinge.…

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„NI WorldClass 2012“: Robotik-Workshop für Studenten

Pressemitteilung,  Oktober  2011 –  National Instruments (NI) ruft auch dieses Jahr wieder alle Studenten der Ingenieurswissenschaften auf, sich für die NI WorldClass 2012 zu bewerben. Diese wird vom 6. bis zum 11. März 2012 in München stattfinden, Bewerbungsschluss ist der 5. Dezember 2011. Dabei handelt es sich um einen fünftägigen interdisziplinären Workshop, bei dem Projektteams mit autonomen Robotern einen Parcours mit anspruchsvollen Aufgaben absolvieren. Hier kommen „Robotino“, das mobile Robotersystem von FESTO Didactic (www.robotino.de), sowie Hard- und Software von National Instruments zum Einsatz. Die Teilnehmer können praktische Erfahrung in den…

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DIAdem-2011-Tage von National Instruments

Pressemitteilung, September 2011 – Ab dem 27. Oktober veranstaltet National Instruments (Nasdaq: NATI) die DIAdem-2011-Tage in München, Stuttgart und Würzburg. Experten aus der Softwareentwicklung und Anwender verraten ihre Tricks für einen einfachen Umgang mit NI DIAdem. Diese Datenverwaltungssoftware ermöglicht es, Mess- und Simulationsdaten leicht zu finden, zu sichten, zu analysieren und in Berichten auszuwerten. Im DIAdem-Einsteigerseminar lernen Interessierte an einem Vormittag, wie sie Datenrecherche mit dem DataFinder betreiben ihre Daten mithilfe des VIEW-Moduls sichten diese mit Analysefunktionen verarbeiten mit dem REPORT-Modul maßgeschneiderte Berichte erstellen sich wiederholende Abläufe automatisieren Die Teilnahme…

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LabVIEW-2011-Tage in Deutschland, Österreich und der Schweiz

Pressemitteilung, September 2011 – Im Herbst 2011 präsentiert National Instruments Interessenten und Anwendern im Rahmen der bewährten Veranstaltungsreihe LabVIEW-Tage die neue Version NI LabVIEW 2011. Diese kostenlose Veranstaltung findet ab dem 8. November 2011 in acht Städten Deutschlands, Österreichs und der Schweiz statt. In diesem Jahr feiert die Programmierumgebung NI LabVIEW ihr 25-jähriges Jubiläum. Seit nunmehr einem Vierteljahrhundert dauert die Erfolgsgeschichte rund um die grafische Entwicklungsumgebung NI LabVIEW schon an und revolutionierte damals wie heute die Art und Weise, wie Ingenieure, Techniker und Wissenschaftler skalierbare Mess-, Prüf-, Steuer- und Regelanwendungen erstellen. Bei…

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National Instruments stellt erste Multicore-basierte NI-CompactRIO-Systeme mit Intel® Core™ i7 Prozessor und die kleinsten NI-Single-Board-RIO-Varianten vor

Neue Produkte der NI-RIO-Plattform für anspruchsvolle Steuer-, Regel- und Überwachungsanwendungen mit hoher Leistungsfähigkeit und geringem Formfaktor Pressemitteilung, 2. August 2011 – National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Erweiterung der NI-Plattform für rekonfigurierbare I/O (RIO) um höchste Leistungsfähigkeit mit den ersten Multicore-basierten NI-CompactRIO-Systemen und den kleinsten NI-Single-Board-RIO-Varianten bekannt. Die neuen Systeme der Reihe NI cRIO-908x verfügen über einen Intel® Core™ i7 Dualcore-Prozessor für mehr Verarbeitungsleistung, Spartan-6-FPGAs (Field-Programmable Gate Arrays) von Xilinx und die Möglichkeit, die Betriebssystemkonfiguration Windows Embedded Standard 7 (WES7) für Überwachungs-, Steuer- und Regelanwendungen einzusetzen, für die die Leistungsfähigkeit…

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